En poursuivant votre navigation sur ce site, vous acceptez l’utilisation de cookies pour vous proposer des contenus et services adaptés à vos centres d’intérêts. En savoir plus et gérer ces paramètres. OK X
 
 

 

 

Actualité des entreprises

MESURE DYNAMIQUE et USINE du FUTUR lors du CIM 2017

Publication: Mai 2017

Partagez sur
 
Le Congrès International de Métrologie 2017 se tiendra du 19 au 21 septembre à Paris, en conjonction avec le Salon ENOVA...
 

La manifestation est placée sous un slogan technologique « Mesurer pour inventer le futur » et aborde la mesure sur 3 axes : les processus, les techniques et les perspectives.

En particulier, une des tables rondes du congrès « Mesure dynamique et Usine du futur : l’atout métrologie » a pour objectif de montrer l’apport et l’intérêt de la métrologie et de la maîtrise de ses mesures dans l’usine du futur. L’usine du futur est flexible, automatisée et interconnectée. Cette révolution industrielle correspond à un aménagement de l’industrie actuelle par le biais des nouvelles technologies. La reconception du mode de production passe aussi par la personnalisation des produits, une production « bien du premier coup », des petites séries, voire des produits uniques. Ceci est possible grâce notamment à l’exploitation du flux de mesure mais aussi par une interaction numérique entre l’homme et son produit.

Le produit est tracé et exploité au maximum tout au long de sa fabrication en fonction de ses caractéristiques, particularités. Cette communication est possible grâce à des capteurs, des automates… c’est-à-dire par un processus de mesure complètement intégré et interconnecté, pour faire converger les informations vers des paramètres de réglage optimum.

La mesure devient aussi dynamique, c’est-à-dire que l’on mesure en flux de production. On évite ainsi d’interrompre le processus productif en contrôlant dans la mesure du possible les pièces même si celles-ci sont en mouvement. La métrologie devient ainsi proactive au cœur de la production et permet son optimisation.

D’autres tables rondes sont programmées sur les sujets « Drone et surveillance », « Déclaration de conformité et évolution de l’ISO 17025 », « Progrès en mesure à l’échelle nano ? ».

De nombreux autres sujets seront abordés : flexibilité des mesures optiques, nouvelles technologies, data métrologie, l’intelligence artificielle, métrologie 4.0, santé et radiothérapie …

http://www.cim2017.com/

Suivez MtoM Mag sur le Web

 

Newsletter

Inscrivez-vous a la newsletter d'MtoM Mag pour recevoir, régulièrement, des nouvelles du site par courrier électronique.

Email: